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衡翼動(dòng)態(tài)彎曲測試設(shè)備執(zhí)行GB/T 17554.1-2025是新發(fā)布的卡及身份識(shí)別安全設(shè)備測試方法國家標(biāo)準(zhǔn),執(zhí)行雙向扭轉(zhuǎn)測試。2025年9月1日正式實(shí)施,替代2006版標(biāo)準(zhǔn)。
本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T16649.1,GB/T 17554.1-2025國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 符合以上標(biāo)準(zhǔn),用于檢測磁條卡,IC芯片卡,智能卡、交通卡、醫(yī)療卡、社???、集成電路卡等卡的彎曲和扭曲性能測試。


衡翼動(dòng)態(tài)彎曲測試設(shè)備測試的目的是確定由于對卡測試樣品重復(fù)施加扭曲應(yīng)力而對其產(chǎn)生的任何不利的機(jī)械或功能影響。
衡翼動(dòng)態(tài)彎曲測試設(shè)備測試原理:將樣品卡放在衡翼動(dòng)態(tài)彎扭曲試驗(yàn)機(jī)的鉗口之間,定位使得彎曲圍繞軸A ,諾卡有觸點(diǎn),則應(yīng)首先將觸點(diǎn)置于上面。采用基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)提定的彎曲總數(shù)的四分之一,若沒有指定這樣的數(shù)字,則采用250次彎曲,重新定卡,使卡的另一面位于上方,但彎曲仍然圍繞軸A.采用與之前相同次數(shù)的彎曲。
重新定卡并重置試驗(yàn)機(jī),使卡的原始面朝上,但彎曲圍繞軸B,若卡有觸點(diǎn),則它應(yīng)位于此面,即觸點(diǎn)位于上面。重新定卡,使卡的另一面位于上方,但彎曲仍然圍繞軸B . 采用與之前相同次數(shù)的彎曲。
兩組彎曲這間的時(shí)間,以及一組彎曲和完成卡的可測試功能測試的時(shí)間應(yīng)不超過1h.
衡翼扭曲測試原理:將測試卡放置在衡翼上,使其松動(dòng)地固定在兩個(gè)導(dǎo)軌的凹槽中,調(diào)整距離d,使卡的短邊可相對于中間位置旋轉(zhuǎn)±α的角度,將測試頻率設(shè)置為0.5 Hz,將旋轉(zhuǎn)角α置為15°±1°,并執(zhí)行基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的扭曲循環(huán)次數(shù), 如果未規(guī)定,則執(zhí)行1000次扭曲循環(huán)。在測試開始和結(jié)束時(shí)檢查卡的可測試功能。也可以在測試期間,在基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的扭曲循環(huán)次數(shù)的 四分之一之后進(jìn)行檢查。

技術(shù)參數(shù):
型號(hào):HY(IC)
測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期:1~9999次
扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°,總扭曲角度30°
長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊小位移量為2mm±0.50mm,
短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊小位移量為1mm±0.50mm,
長邊彎曲工位數(shù):5工位
短邊彎曲工位數(shù):5工位
雙向扭轉(zhuǎn)工位數(shù):5工位
外形尺寸:L745 X W380 X H300
儀器重量:70kg
電 壓:AC220V±5%
功 率:35W



公司主營拉力試驗(yàn)機(jī)相關(guān)產(chǎn)品 備案號(hào):滬ICP備10020847號(hào)-2
